평판 검출기 확장
Submitted by rnd_admin on Tue, 10/22/2024 - 00:10
ename_ko:
평판 검출기 확장
ename_en:
FPX
emodel:
Versa 620
Flat Panel Extension
institution:
기초과학공동기기원
location:
관악 기초과학공동기기원
(139동 209호)
epname:
이미선
tel:
02-880-5822
email:
msyi@snu.ac.kr
link:
https://irf.snu.ac.kr/possessed_device/possessed_device.php?idx=91&teamid=2&newitem=&sk=#mainContent
keyword:
비파괴 방식으로 내부구조, 기공, 결함영역 등의 3D 가시화 또는 2차원 단면상을 볼 수 있고, 이를 재구성하여 고분해능 3D 구조를 분석 할 수 있다.
특히, 시료에서 관심 영역을 고분해능(Voxel resolution) 기반에서 Overview 뿐만 아니라 특정 ROI로 확대하여 2차원 및 3차원 내부 구조 분석이 가능하다.
분석대상은 재료과학분야, 자연과학분야 및 생명과학분야 뿐만 아니라 다양한 산업, 과학 연구 분야에 대한 불특정 다수 시료의 분석 및 연구에 활용할 수 있다.
Energy Materials, Soft Materials & Biomaterials, Metals, Nanomaterials, Ceramics, Glass, Building Materials, Thin Films/Coatings, Catalyst/Nuclear, Electronics, Composites, Materials Microscopy, Art/Museum Materials, Geosciences etc.
code:
irf_017