X-선 분말 회절 분석기
Submitted by rnd_admin on Tue, 10/22/2024 - 00:10
ename_ko:
X-선 분말 회절 분석기
ename_en:
Powder X-Ray Diffractometry
emodel:
D8 Advance
institution:
농생명과학공동기기원
location:
관악 농생명과학공동기기원
(201동 203호)
epname:
오유경
tel:
02-880-4955
email:
ykoh93@snu.ac.kr
link:
https://nicem.snu.ac.kr/modules/mschedule/mschedule_analysis1.html?m_no=190&mp_no=1
keyword:
○ 동작 원리
특정 X-선(Cu-K 선)을 시료에 조사시켜 회절된 회절 양상을 이용하여 결정질, 비결 정질 재료의 상분석, 결정의 배향성들의 물질에 대한 구조 해석을 고유의 2 값으로부터 얻는다.
○ 장비 성능
- High Resolution Diffractometer System
- High Sensitivity with Regged Construction
- Vertical Type Theta-Theta Goniometer
- Measuring Circle Diameter : 435mm
- Angular Range(2 ) : -100 ∼ 168
- Multi-layer Mirror for High Intensity Gain by Parallel Beam
- Automatic 40 Samples Changer
- X-Ray Generator(3kW) : Ceramic Tube
- Software Package
* JCPDS File(PDF 1 and 2) : 모든 결정질의 h, k, l 값의 Database
* Rietveld Software (License 소유)
* Profile (License 소유)
* Base+Search (License 소유)
○ 용도
- 결정질 혹은 비결정질 분말 시료의 정성적인 상분석
- PDF Database Maintenance
- Analytical Profile Fitting과 정량적인 상분석법(Profile 이용)
- 결정계수와 결정크기 결정법
(Lattice Parameter and Crystallite Size Determination)
- Powder Diffraction Data를 통한 ab Initio법을 이용한 구조 해석
* Space Group Determination
* Structure Refinement Using Rietveld Method
* Rietveld Software
code:
G2013-61160