소각 x선 산란분석기

○ 동작 원리 광원이 매질을 만나면 회절(diffraction) 혹은 산란(scattering)이 일어나게 되는데, 회 절은 매우 규칙적인 배열에 의해 일어나는 전자기파의 변화를 말하며, 산란은 주로 불규칙적인 배열을 가진 시스템에서 보이는 전자기파의 경로 및 파장변화를 일컫는다.산란의 경우, 시료와 산란후 전자기파가 검출되는 검출기사의의 거리와 광원의 파장에 따라 분석할 수 있는 물질의 단위가 달라진다. ○ 장비 성능 - Nano-structure of 1~200 nm - Analysis structure of Liquid and Bulk Materials 1) Microfocus X-ray source X- ray tube 2) Scatterless slit 3) Sample chamber 4) Detector stage 5) DECTRIS Hybrid pixel photon unting Detector 6) GiSAXS module 7) Low Noise Flow Cell 8) Multi-purpose X-Ray Temperature Stage 9) Data collection software ○ 용도 (1) 물질에서의 나노입자의 크기 및 크기 분포, 형태 분석 - 분말 및 필름, 액체 시료 등 다양한 형태의 시료 측정 - 결정질 혹은 비결정질 분말 시료의 정성적인 상분석 - 수십에서 수백나노미터 수준의 고차 구조분석 (2) 고분자 나노 복합체 - 고분자와 나노입자 사이의 계면처리를 통한 분산 분석 - 벌크상태의 분산분석이 가능(SEM, TEM 통한 표면분석) (3) 거대블록 공중 합체의 상변이 - 블록공중합체의 구역크기 분석(수백nm 이하) - 온도, 압력 변화에 따른 나노입자의 크기 및 형태 분석 (4) 나노 기공을 가진 박막특성 연구 - GI-SAXS를 용한 박막재료분석(solar cell) - 박막의 기공 모양 또는 분포 구조 분석 (5) 다공성(porous) 재료의 구조 분석 - 다공성 물질의 크기 측정 - 모양 분석 - Celluose Structure in Wood 측정 (6) 솔루션 내에서의 단백질의 구조 분석 - pH, 온도, 압력변화에 따른 폴딩 발생시 구조변화 관측