미소부위 X선 산란분석기

○ 동작 원리 고전압으로 발생시킨 X선을 시료에 조사시켜 0.2~100nm정도의 매우 작은 입자로 구성된 계나 밀도가 균일하지 않은 영역을 갖는 재료의 산란에 의한 산란 무늬의 해석을 통해 미립자의 크기, 형상, 배향에 대한 정보를 2-Dimension Detector로 처리하여 2-D Image로 얻는다. ○ 장비 성능 - X-Ray Generator(3kW) - VANTEC 500 * Pixel Frame : 2048 2048 or 1024 1024 User Selectable * Detector Dia : 11.5cm * Position Decoupling Circuit with Digital Output - Software Package * JCPDS File(PDF 1 and 2) : 모든 결정질의 h, k, l 값의 Database - 해석 프로그램인 LEPTOS 와 MULTEX Area는 사용자에게 최신의 GUI를 제공함으로서 정밀하고 최적화된 분석 데이터를 제공함. - Rietveld Software (License 소유) - Profile (License 소유) - Base+Search (License 소유) ○ 용도 - 가장 작거나 혹은 가장 큰 샘플, 그리고 샘플의 양, 동질이 아니거나 혹은 무거운 무게를 갖는 복잡한 기하학의 샘플 등 이 모든 것을 취급하는 Diffractometer의 유연성은 L5모든 분석 실행이 가능함. - 반도체, Film, 코팅유리, Nano-material등의 연구의 최전선에서부터 품질 관리, 제품 및 공정 개발까지 커버하는 혁신적인 Thin Film solution - Polymers, Metallic, and Ceramic Material의 Fiber, Film, Powder가 측정 가능 (범용 Sample의 Fast Phase Identification) - 측정 단계별 상상변이 에 대한 목록화(제약샘플에 필수적인 Phase Transition의 자동 목록화)와 구조 분석에 이르는 어플리케이션을 모두 수용