전계방출형 주사전자현미경
Submitted by rnd_admin on Tue, 10/22/2024 - 00:10
ename_ko:
전계방출형 주사전자현미경
ename_en:
FE-SEM
emodel:
Apreo S
institution:
치의학대학원
location:
치의학대학원 전자현미경실
(연건 20동 129호)
epname:
김효정
tel:
02-740-8705
email:
hyojeong0410@snu.ac.kr
link:
https://dri.snu.ac.kr/microscope/reservation
keyword:
FE-SEM Apreo S 전계방출형 주사전자현미경의 주요 용도 및 원리
- Field emission scansmission electron microscopy (FE-SEM): 재료 및 생물 시료 표면의 초미세구조 관찰
- Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS): 에너지분산형 분광분석법에 의한 시료 표면 미세 영역의 원소 함유량 및 분포 분석
- 고해상도 Image mapping: Automatic stitching 기법을 통한 고해상도의 대면적 Image 분석.
- 고해상도 Array Tomography: 시료의 3차원적 구조 재구성
∙ Resolution :
High vacuum - 0.7nm at 15kV /1.8nm at 0.1kV(beam decel.)
Low vacuum - 1.0nm at 15kV/1.8nm at 3kV
∙ Magnification : ×30 to ×500,000
∙ Accelerating voltage : 0.5 to 30 kV
∙ Lens : combined electrostatic, field-free magnetic and immersion magnetic objective lens
∙ Tilt : -15˚ to +90˚
code:
DENTISTY_025