고속 고분해능 분광 엘립소미터

ename_ko: 
고속 고분해능 분광 엘립소미터
ename_en: 
Ellipsometer (UV, VIS, NIR)
emodel: 
M2000DI
institution: 
응용물리연구소
location: 
관악 자연과학관2 (19동 402호)
epname: 
송인경
tel: 
02-6415-7783
email: 
iksong@snu.ac.kr
keyword: 
- Ellipsometer configuration : Dual RCE - Wavelength range : 193-1690 nm - Number of wavelengths : 690 wavelengths - Detector : CCD - Angles of incidence : 45°-90° (Automated angle base) : 20°-90° (Vertical automated angle base) : ~65° (Focused base) : 65° (Fixed angle base) : 65° (Test base) - Data acquisition rate : 0.05 seconds (2-5 seconds is typical) - Max substrate thickness : 18 mm
code: 
iap19_ellipsometer

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