고성능 비트에러율테스터
Submitted by rnd_admin on Tue, 10/22/2024 - 00:10
ename_ko:
고성능 비트에러율테스터
ename_en:
High-Performance Bit-Error-Rate Tester
emodel:
MP1800A 외
institution:
반도체공동연구소
location:
반도체공동연구소
(104-1동 207호
측정장비실)
epname:
이은경
tel:
880-5449
email:
eklovelee@snu.ac.kr
link:
http://isrc.snu.ac.kr/data/cheditor4/1704/kipKd5nGcQeXH6Zuy2.jpg
keyword:
장비 설명
- 유연하고 확장 가능한 플러그인 모듈 설계
- 다용도 신호 무결성 측정 기능
- 뛰어난 신호 품질 및 Rx 감도 : 반도체 칩의 고정밀도 측정
- 초고감도 에러 검출기
공정 범위
- 56G/64G bit/s MUX MP1861A 및 56G/64G bit/s DEMUX MP1862A를 PPG, ED가 설치된 MP1800A와 조합함으로써 지터 모듈레이션 소스가 최대 64Gbit/s까지 시리얼 NRZ 데이터의 생성을 지원하며, BER 및 지터 오차 측정도 지원.
- SJ, RJ, BUJ, SSC, 듀얼 톤 SJ, 반주기 지터(짝수/홀수 지터) 등과 같은 다양한 지터 컴포넌트의 오차는 배스터브 지터와 함께 측정해서 CEI-56G와 같은 새로운 표준을 지원.
- 장비의 위치 : 104-1동 설계연구관 / 207호 측정장비실
code:
ERT03