투과전자현미경
Submitted by rnd_admin on Tue, 10/22/2024 - 00:10
ename_ko:
투과전자현미경
ename_en:
Analyticla TEM
emodel:
JEM-2100F
institution:
신소재공동연구소
location:
관악 신소재공동연구소
(37동 110호)
epname:
김인섭
tel:
02-880-5590
email:
kimis@snu.ac.kr
link:
https://riam.snu.ac.kr/sub.php?code=ZESrM6&dong=&mode=view&serial=46
keyword:
가속전압이 200kV운용.
Field Emission Gun을 사용하고, 점해능이 2.3 A이고, 선분해능은 1.0 A이다. 현재 TEM 상에서 가능한 배율은 최소 50배에서 최대 1.5M배이다. 따라서 재료 내부의 일반적인 미세조직 관찰에 능할 뿐만 아니라, 원자 이미지의 관찰 및 결정학적 분석에 활용.
EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)가 장착되어 있어 화학성분분석이 가능하다. 또한 EDS가 STEM(Scanning Transmission Electron Microscopy)과 연결이 되어 원하는 이미지를 컴퓨터상에서 받고, 분석을 원하는 위치를 컴퓨터 화면상에서 정할 수 있는 편리한 system으로 되어 있다.
1. Specifications
-Resolution
TEM Point Res. 0.23 nm
TEM Line Res. 0.10 nm
code:
riam_TEM04