전계방출형 투과전자현미경
Submitted by rnd_admin on Tue, 10/22/2024 - 00:10
ename_ko:
전계방출형 투과전자현미경
ename_en:
FE-TEM
emodel:
Tecnai F20
institution:
신소재공동연구소
location:
관악 신소재공동연구소
(37동 106-2호)
epname:
이재연
tel:
02-880-4087
email:
jy216@snu.ac.kr
link:
https://riam.snu.ac.kr/sub.php?code=ZESrM6&dong=&mode=view&serial=5
keyword:
F20 기종은 가속전압이 200kV이고, Field Emission Gun을 사용하기 때문에, 점분해능이 2.5 A이고, 선분해능은 1.02 A이다. 현재 TEM 상에서 가능한 배율은 최소 22배에서 최대 93 만배이다. 따라서 재료 내부의 일반적인 미세조직 관찰에 능할 뿐만 아니라, 원자 이미지의 관찰 및 결정학적 분석도 가능하다.
EDAX 사의 EDS(Energy Dispersive Spectroscopy)와 Gatan 사의 EELS(Electron Energy Loss Spectroscopy)가 장착되어 있어 중원소와 경원소의 화학성분분석 및 결정학적 분석이 가능하다. 또한 EDS와 EELS가 STEM(Scanning Transmission Electron Microscopy)과 연결이 되어 원하는 이미지를 컴퓨터상에서 받고, 분석을 원하는 위치를 컴퓨터 화면상에서 정할 수 있는 편리한 system으로 되어 있다.
code:
riam_TEM05